1. An essential guide to electronic material surfaces and interfaces /
پدیدآورنده : by Leonard J. Brillson, Ohio State University
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Electronics-- Materials.,Semiconductors-- Materials.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology)-- Analysis.
رده :
TK7871
2. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، Surfaces )Technology( -- Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
3. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
موضوع : ، Surfaces )Technology(--Analysis,، Electron spectroscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
4. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003
5. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
6. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Surfaces (Technology) ; Analysis ; Electron spectroscopy ;
7. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F
کتابخانه: کتابخانه مرکزي و مرکز اسناد دانشگاه سمنان (سمنان)
موضوع : ، Surfaces )Technology--Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
W373
2003
8. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Surfaces (Technology), Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95W373
2003
9. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Surfaces (Technology) Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
,
W3
2003
10. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Surfaces )Technology( - Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
11. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
12. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003
13. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Surfaces (Technology)--Analysis,Electron spectroscopy.
رده :
TP
,
156
,.
S95
,
W373
,
2003
14. An introduction to surface analysis by XPS and AES. ]CD[
پدیدآورنده : Watts, John F., John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
W373
2003
15. Analysis of organic and biological surfaces
پدیدآورنده : ]edited by[ Patrick Echlin
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : ، Surfaces )Technology(- Analysis,، Spectrum analysis,، Microscopy,، Chemistry, Organic,، Biochemistry
رده :
QD
502
.
A55
16. Applications of Reference Materials in Analytical chemistry
پدیدآورنده : Peter Roper...[,atc]&
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه یاسوج (محمد بهمن بیگی) (کهگیلویه و بویراحمد)
موضوع : Surfaces (Technology), Analysis, Congresses
رده :
620
,.
11292
,.
A68
,
2001
17. Applied surface analysis :a symposium
پدیدآورنده : sponsored by ASTM Committee E-24 on Surface Analysis, American Society for Testing and Materials, Cleveland, Ohio, 82 Feb.-1 March, 8791 ; T. L. Barr, L. E. Davis, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Analysis Congresses ، Surfaces )Technology(
رده :
TA
418
.
7
.
A68
1980
18. Auger microprobe analysis
پدیدآورنده : Ferguson, I. F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه حکیم سبزواری (خراسان رضوی)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Auger effect,، Photoelectron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
F47
1989
19. Auger microprobe analysis
پدیدآورنده : / I . F . Ferguson,Ferguson
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Surfaces (Technology) -- Analysis,Auger effect,Photoelectron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95F47
1989
20. Beam effects, surface topography, and depht profiling in surface analysis
پدیدآورنده : edited by Avin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Surfaces )Technology( - Analysis , Materials - Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
